4104C ZYGO

Zygo 4104C是一款高精度干涉测量仪，专为测量光学表面的形貌而设计。它能够以纳米级的精度测量各种光学元件的表面轮廓、曲率、粗糙度等参数。该仪器广泛应用于光学制造、科研、质量控制等领域。

产品参数

测量范围:视具体配置而定，可测量从微米到毫米级的表面形貌

测量精度:亚纳米级

测量速度:快速，可实现高通量测量

接口:USB、Ethernet等

软件:Zygo MetroPro软件，提供强大的数据分析和处理功能

光学元件制造:测量镜片、透镜、棱镜等光学元件的表面质量

半导体制造:测量晶圆表面形貌

科研:用于研究光学材料的表面特性

质量控制:对光学元件进行质量控制

Zygo是全球领先的光学测量仪器制造商，其产品广泛应用于光学、半导体、汽车等行业。Zygo的干涉测量仪以其高精度、高可靠性而闻名，是光学测量领域的标杆。

高精度:采用先进的干涉测量技术，能够实现纳米级的测量精度。

多功能性:可测量各种形状和尺寸的光学表面。

易用性:配备友好的用户界面，操作简单。

自动化:支持自动化测量，提高效率。

Zygo 4104C通过干涉测量原理来测量光学表面的形貌。它将一束激光分成两束，一束照射在被测表面，另一束照射在参考面上。两束反射光发生干涉，形成干涉条纹。通过分析干涉条纹，可以计算出被测表面的形貌。